yy.vip易游-FEI申请针对电子显微镜的磁放大控制专利使用一个或多个磁浸没场来修改电子到检测器上的轨迹

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　　国家知识产权局信息显示，FEI公司申请一项名为“针对电子显微镜的磁放大控制”的专利，公开号CN121662688A，申请日期为2025年9月。

　　专利摘要显示，本文提供了针对电子显微镜的磁放大控制的系统或技术。在各种实施例中，系统可包括电子显微镜，该电子显微镜使电子衍射穿过分析样品，并使用一个或多个磁浸没场来修改电子到电子检测器上的轨迹。

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